Charge identification of fragments produced in 16O beam interactions at 200 MeV/n and 400 MeV/n on C and C2H4 targets

Galati, G.;Boccia, V.;Alexandrov, A.;Alpat, B.;Ambrosi, G.;Argirò, S.;Barbanera, M.;Bartosik, N.;Battistoni, G.;Bisogni, M. G.;Bruni, G.;Cavanna, F.;Cerello, P.;Ciarrocchi, E.;Colombi, S.;De Gregorio, A.;De Lellis, G.;Di Crescenzo, A.;Di Ruzza, B.;Donetti, M.;Dong, Y.;Durante, M.;Faccini, R.;Ferrero, V.;Finck, C.;Fiorina, E.;Francesconi, M.;Franchini, M.;Franciosini, G.;Galli, L.;Ionica, M.;Iuliano, A.;Kanxheri, K.;Kraan, A. C.;La Tessa, C.;Lauria, A.;Torres, E. Lopez;Magi, M.;Manna, A.;Marafini, M.;Massa, M.;Massimi, C.;Mattei, I.;Mengarelli, A.;Mereghetti, A.;Minniti, T.;Moggi, A.;Morone, M. C.;Morrocchi, M.;Muraro, S.;Pastrone, N.;Patera, V.;Pennazio, F.;Peverini, F.;Placidi, P.;Pullia, M.;Ramello, L.;Reidel, C.;Ridolfi, R.;Salvi, L.;Sanelli, C.;Sarti, A.;Sato, O.;Savazzi, S.;Scavarda, L.;Schiavi, A.;Schuy, C.;Scifoni, E.;Sciubba, A.;Servoli, L.;Silvestre, G.;Sitta, M.;Spighi, R.;Spiriti, E.;Tioukov, V.;Tomassini, S.;Tommasino, F.;Toppi, M.;Traini, G.;Trigilio, A.;Ubaldi, G.;Valetti, A.;Vanstalle, M.;Villa, M.;Weber, U.;Zarrella, R.;Zoccoli, A.;Montesi, M. C.

2024-01-01